穿透式電子顯微鏡(維修中)
TEM 穿透式電子顯微鏡
機型：FEI Tecnai G2 20 S-Twin，
EDS機型：METEK
Ⅰ. 加速電壓：200KV
Ⅱ. 放大倍率：2250~1000kXc
Ⅲ. 燈絲：LaB6
Ⅳ. 高解析像能觀察：Point Resolution： 0.248nm
Line Resolution ： 0.144nm
Ⅴ. Spot size： ≧ 3nm
Ⅵ. 雙傾斜試片座：X軸± 400； Y軸± 400
Ⅶ. EDS分析：92≧原子序≧ 5
樣品準備須知：
1. 對於試片使用者必須詳細說明試片之材料種類、製作方式與溶劑種類，為減少儀器不必要的污染本單位有權拒絕受理，檢驗樣品具以下條件者禁止進入腔體：
(1) 待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度，以避免在進出電鏡、或在檢測的操作過程中，發生剝落、碎裂的狀況。
(2) 低熔點的材料如:銦,錫等,會產生相變及蒸鍍效應。
(3) 在電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品，如有機物、高分子等，有影響真空造成污染之虞。
(4) 具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料。
(5) 未經正確處理或充分乾燥的粉末樣品（至少要在烘箱乾燥八個小時）。
2. 若試片需黏著在銅環上，請使用G1膠，請勿用AB膠。
收費標準：
1. 2000元/小時
2. 時段優惠：5500元/3小時；超時加收：1000元/半小時。
註：時間計算以試片離開腔體為基準，不足半小時者以半小時計。
線上預約申請：共用儀器服務平台
系統使用教學：儀器預約
校內使用者(教職員)：登入教師表現系統，直接點選右上「共用儀器平台」。
校內使用者(學生)：由指導教師開通權限後，以應用系統帳密登入。
聯絡人：
儀器管理員：曹秀鳳 技術員
TEL：07-6577711#3986 Fax: 07-6578444
E-MAIL：shirleytsao@isu.edu.tw
儀器室地點：義守大學理工大樓一樓貴重儀器中心